出展者情報
[A-13] ナノメトリクス・ジャパン(株)
■エレクトロケミカルCVプロファイラー
■ホール効果測定装置
■フォトルミネッセンスマッピングシステム
■FT-IRシステム ■分光反射率式膜厚測定システム
■ホール効果測定装置
■フォトルミネッセンスマッピングシステム
■FT-IRシステム ■分光反射率式膜厚測定システム
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住所
141-0031
東京都品川区西五反田8-9-5 ポーラ第3五反田ビル -
Tel
03-5745-9305
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