■小型磁区観察顕微鏡 Neomagnesia Lite
■マスクレス露光装置 PALET
■デュアルコム ファラデー効果測定装置　(参考出品)
■サニャック干渉計振動観察装置

■完全非接触原子間力顕微鏡

■マニュアル エポキシダイボンダー モデル7200CR
■卓上型マニュアル ディープアクセス ウエッジボンダー モデル7476D
■卓上型マニュアル ボールワイヤー＆バンプボンダー モデル7700D
■HMP-410IS 小型マニュアルプローバー+テスター(B2900A)
■AW610 高速熱処理装置
■自動真空・ガス置換電気炉 VF-5000
■卓上型マニュアル劈開装置 LatticeAx...

■原子層堆積装置（ALD装置） ■アニール装置（RTP装置） ■DLI成膜装置

■【ファイファーバキューム社製品】 ・卓上型TMP排気ユニット Hicube ECO ・フルレンジ真空計 PKR361 ・ヘリウムリークディテクタASM310 ・四重極質量分析計　Prisma Pro ・Nor-cal社製ゲートバルブ（新製品）

■真空成膜装置
■真空コンポーネント
■表面分析装置
■極低温光学・物性測定装置

■光電子増倍管モジュール ■InAsSb光起電力素子 ■ORCA®-FusionデジタルCMOSカメラ ■波長掃引パルス量子カスケードレーザ ■オプティカルブロック ■PMA-12 マルチチャンネル分光器 ミニ分光器 ■InGaAsカメラ ■LDLSTM ■MPPC®/MPPC®モジュール

■露光装置 ■Micro MC機 ■インクジェット

■走査プローブ顕微鏡 ■ナノ3D光干渉計測システム

■3次元表面形状測定システム プロフィルム3D
■膜厚測定システム

■小型極端パルス幅計測器(Mini)
■ダイオード励起空冷ナノ秒レーザ(Quantas)
■超小型高パフォーマンスCMOS分光器(AvaSpec-Mini)
■超小型CWマイクロレーザ(MatchBox2)
■近赤外ビューア
■フェムト秒レーザ発振器（パネル展示）

■研究開発用インクジェット装置マテリアルプリンターDMP-2850

■NIMS Open Facility（NIMS共用設備）の紹介
■ユーザースクールの紹介

■深紫外ラマン分光装置、Taccor Com Ti:Sapphire繰返し1GHz: OPCPA

■AFM（原子間力顕微鏡）、ナノインデンテーションシステム及び、X線回折装置、半導体プロセス向け測定装置のご紹介

■波動光学解析ソフトウェア VirtualLab ■強連成マルチフィジックス解析ソフトウェア OOFELIE

■グレーティング ■分光器 ■検出器 ■MFC ■ガス濃度モニタ ■放射温度計​

■研磨機MA-200e ■切断機(MPC-200e、CS-203） ■スクライバー（SC-100） ■研磨剤噴霧装置MS-2

■PL測定装置