11:15 〜 11:30
[10a-M135-9] アブレーションによる反射率変化を用いた真空紫外パルス波形計測
キーワード:真空紫外波形計測、アブレーション、シリコン
極短パルスレーザーをシリコンに集光することによってレーザープラズマを生成し、波長132 nm の真空紫外プローブパルスの時間分解反射スペクトルを測定した。FROG解析により真空紫外パルスのパルス幅を 16 fs と決定することができた。
一般セッション(口頭講演)
3 光・フォトニクス » 3.6 超高速・高強度レーザー
2019年3月10日(日) 09:00 〜 12:00 M135 (H135)
乙部 智仁(量研機構)
11:15 〜 11:30
キーワード:真空紫外波形計測、アブレーション、シリコン