2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.4 III-V族窒化物結晶

[10a-W541-1~12] 15.4 III-V族窒化物結晶

2019年3月10日(日) 09:00 〜 12:15 W541 (W541)

荒木 努(立命館大)、寒川 義裕(九大)

10:45 〜 11:00

[10a-W541-7] B2H6原料を用いたBN薄膜のCVD成長

山田 永1、井爪 将1,2、山田 寿一1、清水 三聡1,2 (1.産総研、2.名大)

キーワード:窒化ホウ素、ジボラン

六方晶窒化ホウ素(h-BN)はワイドバンドギャップ半導体(∼6eV)であり、深紫外線発光素子材料として期待される。また層状構造を有し、GaN系半導体の剥離層としても期待できる。h-BNの化学気相(CVD)法による薄膜形成は、B原料として有機金属であるトリエチルボラン(TEB)やハロゲン化合物であるトリクロロボラン(BCl3)が使用される。これら原料と異なりジボラン(B2H6)はCやClを原料に含まないことから高純度化が期待できるが、CVDによるh-BNの報告例は殆どない。今回、我々はCVDにより成膜したBN薄膜の特性について報告する。