The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

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Oral presentation

3 Optics and Photonics » 3.12 Nanoscale optical science and near-field optics

[10a-W621-1~13] 3.12 Nanoscale optical science and near-field optics

Sun. Mar 10, 2019 9:00 AM - 12:30 PM W621 (W621)

Kosei Ueno(Hokkaido Univ.), Toshiharu Saiki(Keio Univ.)

11:30 AM - 11:45 AM

[10a-W621-10] Metamaterial infrared refractometer for detecting broadband complex refractive index of liquid material

〇(M1)Hibiki Kagami1, Tomohiro Amemiya1,2, Kesuke Masuda1, Makoto Tanaka1, Nobuhiko Nishiyama1,2, Shigehisa Arai1,2 (1.Tokyo Tech, 2.IIR)

Keywords:metamaterial, refractive index

「赤外屈折率」はinfrared photonicsをはじめとした様々な分野に必須のパラメータである。今回我々は、メタマテリアルを用いた広帯域複素屈折率計を構成し、これを用いて一例としてポリメタクリル酸メチル樹脂(Polymethyl methacrylate:PMMA)の40-120THz帯における複素屈折率を評価したので、ご報告する。