2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[10a-W934-1~11] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2019年3月10日(日) 09:00 〜 12:00 W934 (W934)

嵯峨 幸一郎(ソニー)、蓮沼 隆(筑波大)

11:00 〜 11:15

[10a-W934-8] Barker-Ferry方程式を用いた高電界輸送特性解析

〇(M2)牧平 真太朗1、森 伸也1 (1.阪大院工)

キーワード:ワイドギャップ、高電界、散乱内電界効果

SiC, GaN などの広い禁止帯を持つ半導体は,絶縁破壊電界が数MV/cm と高く,パワーデバイス応用に向けて,Si に代わる半導体材料として注目されている.数MV/cm 程度の印加電界のもとでは,散乱中に電子が加速される散乱内電界効果(ICFE) などの量子効果が重要な役割を演じると予想されている.本研究では,ICFEを考慮可能な輸送方程式であるBarker-Ferry 方程式を用いて,単純化した1次元半導体における高電界輸送特性を解析した.