2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[10a-W934-1~11] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2019年3月10日(日) 09:00 〜 12:00 W934 (W934)

嵯峨 幸一郎(ソニー)、蓮沼 隆(筑波大)

11:15 〜 11:30

[10a-W934-9] [講演奨励賞受賞記念講演] 半導体表面におけるグラフェン・アシストエッチングの基礎特性の解明

平野 智暉1、中田 裕己1、山下 裕登1、李 韶賢1、川合 健太郎1、山村 和也1、有馬 健太1 (1.阪大院工)

キーワード:エッチング、還元グラフェン、半導体表面

我々は,溶液中で還元グラフェンシートと接触した半導体表面が選択的にエッチングされる,グラフェン・アシストエッチングを初めて見出した.今回は,酸素ガスが溶存した水中でGe表面に対して本手法を適用した時に得られた,本エッチングモードの基礎特性を紹介する.加えて,グラフェンシートのネットワーク内に窒素原子をドーピングし,ドーピングサイトとエッチング速度の相関関係を調べた結果についても報告する.