2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

コードシェアセッション » 【CS.7】7.4 量子ビーム界面構造計測、9.5 新機能材料・新物性のコードシェアセッション

[10p-S423-1~13] CS.7 7.4 量子ビーム界面構造計測、9.5 新機能材料・新物性のコードシェアセッション

2019年3月10日(日) 13:30 〜 17:15 S423 (S423)

笹川 崇男(東工大)、河底 秀幸(東北大)、豊田 智史(京大)

15:00 〜 15:15

[10p-S423-6] 逆光電子ホログラフィーを用いた強誘電体酸窒化物の局所構造解析

山本 裕太1、木村 耕治1、Artoni Ang1、松下 智裕2、廣瀬 靖3、林 好一1 (1.名古屋工業大学、2.高輝度光科学研究センター、3.東京大学)

キーワード:逆光電子ホログラフィー、強誘電体

逆光電子ホログラフィーは軽元素に敏感な局所構造解析手法であり、特定の軽元素周囲の局所構造を測定することができる。測定には特性X線を用いるため、スペクトルデータからそれぞれの成分を分離することにより、異なる元素周囲の局所構造を同時に測定することができる。本研究では強誘電体酸窒化物を用いて、窒素と酸素のホログラムの同時測定を行い、酸素と窒素のホログラムを同時に求めることに成功した。