2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[10p-W611-1~14] 16.3 シリコン系太陽電池

2019年3月10日(日) 13:30 〜 17:30 W611 (W611)

傍島 靖(岐阜大)、大橋 史隆(岐阜大)

16:30 〜 16:45

[10p-W611-11] 導電性フィルムタブ付による結晶シリコンPVモジュールのPCTインターコネクタ沿い劣化の抑制

伊野 裕司1、浅尾 秀一1、白澤 勝彦1、高遠 秀尚1 (1.産総研)

キーワード:結晶シリコン太陽電池、加速試験、インターコネクタ

以前の応用物理学会において,我々は,高温高湿環境での加速試験の1種であるPressure cooker test (PCT)を行い,インターコネクタ沿いから広がる劣化を観察し,インターコネクタのタブ付条件が劣化に与える影響について報告した.今回,劣化メカニズムの調査のために,導電性フィルム(CF)を使ってタブ付を行ったモジュールを作製し,PCT試験を行い,その結果を報告する.