2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[11a-M112-1~11] 12.2 評価・基礎物性

2019年3月11日(月) 09:00 〜 12:00 M112 (H112)

赤井 恵(阪大)、塩足 亮隼(東大)

09:30 〜 09:45

[11a-M112-3] 金属酸化物を化学ドープしたC60薄膜のSTM/STS評価

河合 拓哉1、〇中谷 真人1、渡邊 真太1、尾上 順1 (1.名大院工)

キーワード:フラーレン、熱電材料、STM

C60薄膜は人体装着型エレクトロニクス用のフレキシブル電源として期待されている.C60薄膜はN型の熱電特性を示すので,実用的なπ型熱電素子を構築するには,P型熱電特性を示すC60薄膜が必要である.本研究では,C60薄膜表面へ微少量のMoOxを吸着させ,走査トンネル顕微鏡/分光法(STM/STS)によって分子スケール評価することで,MOxの吸着構造や配位構造,電荷移動等について調べた.