[11a-S422-1~10] 15.3 III-V族エピタキシャル結晶・エピタキシーの基礎

[11a-S422-1] NおよびBiを導入したGaAsナノワイヤのXRD測定

〇美田 貴也¹、藤原 亮¹、行宗 詳規¹、石川 史太郎¹ (1.愛媛大工)

キーワード：XRD測定