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[11a-S622-8] ポリカプロラクタムとポリヘキサメチレンアジパミド中カルボニル基に見られるイオン照射下の放射線感受性の相違
キーワード:固体飛跡検出器、ナイロン4,6、ナイロン6,6
高分子系固体飛跡検出器中イオントラックの構造分析の手法としては主に赤外分光分析が用いられている。その手法を用いてアミド基を含む高分子であるポリテトラメチレンアジパミド(ナイロン4,6)とポリヘキサメチレンアジパミド(ナイロン6,6)に5.1 MeV/uのCイオンを照射した際の吸光度変化と化学的損傷パラメータを求めた。