10:30 〜 10:45
[11a-W521-7] 金属原料を用いた二硫化ハフニウム薄膜の作製 (2)
キーワード:遷移金属ダイカルコゲナイド
二硫化ハフニウム(HfS2)は高い電子移動度(1800 cm2 V-1 s-1)とバンドギャップエネルギー(1.2 eV)
を持つ層状化合物半導体であり、低消費電力電子素子材料として期待されている。近年では
四塩化ハフニウム(HfCl4)を前駆体とした化学気相堆積(CVD)法によるHfS2の合成が報告されてい
る。本報告では高純度金属Hfと塩化ナトリウム(NaCl)の反応を利用したHfS2薄膜の合成について報告する。
を持つ層状化合物半導体であり、低消費電力電子素子材料として期待されている。近年では
四塩化ハフニウム(HfCl4)を前駆体とした化学気相堆積(CVD)法によるHfS2の合成が報告されてい
る。本報告では高純度金属Hfと塩化ナトリウム(NaCl)の反応を利用したHfS2薄膜の合成について報告する。