2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[11a-W933-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

2019年3月11日(月) 09:00 〜 11:45 W933 (W933)

山田 豊和(千葉大)

09:15 〜 09:30

[11a-W933-2] 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる金属表面の双極子誘起電位の観察

山末 耕平1、長 康雄1 (1.東北大通研)

キーワード:走査型非線形誘電率顕微鏡、走査型非線形誘電率ポテンショメトリ、表面双極子

非接触走査型誘電率ポテンショメトリ(NC-SNDP)は試料表面の自発分極が誘起する電位を観察可能なプローブ顕微鏡である.NC-SNDPで金属表面を観察する場合,得られる電位はその原理から表面双極子の寄与に支配されると考えられる.本発表ではNC-SNDPでロジウム表面を観察し,得られる電位分布と仕事関数の関係を実験的に検討した結果を報告する.