2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[11p-M116-1~15] 1.5 計測技術・計測標準

2019年3月11日(月) 13:15 〜 17:00 M116 (H116)

寺崎 正(産総研)、阿部 恒(産総研)、天野 みなみ(産総研)

16:45 〜 17:00

[11p-M116-15] テラヘルツ波3次元イメージング技術を用いた壁面内部欠陥診断に関する研究

椴山 誉1,2,3、佐々木 芳彰2、吉峯 功2、永野 繁憲1、湯浅 哲也3、大谷 知行2 (1.トプコン、2.理研 光量子工学研究センター、3.山形大)

キーワード:3次元イメージング、非破壊検査

インフラの欠陥診断への応用を目的とした、テラヘルツ波光源を用いた二種類(波長掃引型光干渉断層計:SS-OCT、位相シフト干渉計)の3次元計測システムを構築し、その撮像特性を評価した。結果、深さ分解能は、それぞれ68 mm(ガウス窓使用)と約3 μmであった。また、検査応用への有効性を確認するために、SS-OCT測定システムを用いて、タイル裏側の空隙の可視化を行った。