[11p-M116-1~15] 1.5 計測技術・計測標準

[11p-M116-8] AFMによるBi₄NbO₈Br光触媒結晶表面のナノレベル分極ドメイン分布解析

〇水島 大地¹、平田 海斗²、鐘 承超³、宮田 一輝^2,4、宮澤 佳甫⁴、陰山 洋³、福間 剛士^2,4 (1.金大理工、2.金大院、3.京大院、4.金大NanoLSI)

キーワード：原子間力顕微鏡、光触媒、圧電応答力顕微鏡