2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

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[11p-PB1-1~40] 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

2019年3月11日(月) 13:30 〜 15:30 PB1 (武道場)

13:30 〜 15:30

[11p-PB1-37] 走査型近接場光学顕微鏡による単一セレン化ビスマスナノ結晶の吸光度測定

大畑 絢仁郎1、大隅 優1、水口 雄紀1、柳谷 伸一郎1、コインカー パンカジ1、古部 昭広1 (1.徳島大学)

キーワード:走査型近接場光学顕微鏡、セレン化ビスマス、レーザーアブレーション

走査型近接場光学顕微鏡による観察は透過光強度と表面形状の2種類の像を観測し、光学特性と物理的形状の比較を行うことができる。セレン化ビスマスはトポロジカル絶縁体の性質があり、ナノサイズ化によって光学特性が変化すると期待されている。液中レーザーアブレーションの適用や適用時間を変化させることで、結晶の変化や光学特性を調べることを目的とする。