[11p-W834-1~18] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[11p-W834-9] MBE法によるAs-doped BaSi₂膜の作製と評価

〇青貫 翔¹、山下 雄大¹、都甲 薫¹、末益 崇¹ (1.筑波大)

キーワード：半導体