2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[12a-M121-1~9] 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2019年3月12日(火) 09:00 〜 11:30 M121 (H121)

小西 敬太(農工大)

09:00 〜 09:15

[12a-M121-1] 窒素イオン注入を用いて作製したガードリング付き縦型Ga2O3ショットキーバリアダイオード (II)

林 家弘1、湯田 洋平2、ワン マンホイ1、佐藤 万由子3、竹川 直3、小西 敬太3、綿引 達郎2、山向 幹雄2、村上 尚3、熊谷 義直3、東脇 正高1 (1.情通機構、2.三菱電機(株)、3.東京農工大院工)

キーワード:酸化ガリウム、フィールドプレートショットキーバリアダイオード、ガードリング

我々は、窒素イオン注入 (N++) ドーピングにより、縦型Ga2O3フィールドプレートショットキーバリアダイオード(FP-SBD)にガードリング(GR)構造を追加した。FPとGRエッジ終端構造2つを併用することで、特性オン抵抗5 mΩ∙cm2、耐圧1.4 kVの優れた特性を有する、縦型 Ga2O3 SBDを作製することに成功したので報告する。