2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[9a-M112-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

2019年3月9日(土) 09:00 〜 12:00 M112 (H112)

片野 諭(東北大)

09:00 〜 09:15

[9a-M112-1] nc-AFMで取得したエネルギー散逸像によるSi/Geの識別

藏 大輝1、辻 繁樹1、富取 正彦2、新井 豊子1 (1.金沢大、2.北陸先端大院)

キーワード:nc-AFM、元素種識別