2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

15 結晶工学 » 15.6 IV族系化合物(SiC)

[9a-PB3-1~18] 15.6 IV族系化合物(SiC)

2019年3月9日(土) 09:30 〜 11:30 PB3 (武道場)

09:30 〜 11:30

[9a-PB3-16] トランスファーモールドSiC-MOSFETパワーモジュールの高温スイッチング試験

谷本 智1,3、山下 真理1、児嶋 伸夫1、鈴木 広達1、荒木 祥和1、佐藤 伸二2、赤津 観3 (1.日産アーク・パワエレ解析室、2.産総研・ADPERC、3.芝浦工大・SIT総研)

キーワード:パワーモジュール、高温、スイッチング試験

この度、NEDO-SIP機電一体EVインホイールモータ(IWM)内部に組み込むトランスファーモールド超小型SiC-MOSFETハーフブリッジパワーモジュール(HBPM)試作品の高温スイッチング(SW)試験を実施したところ、最大目標ケース温度TC = 200℃まで極めて安定にturn-on, turn-offできること確認したので報告する。試験はダブルパルス試験であって、典型的なSW条件は600 V, 105~115Aであった。使用状況では起りえないより過酷な条件: TC = 250℃, 600 V, 150 AでのSWも達成した。