2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.2 電子ビーム応用

[9a-S223-1~9] 7.2 電子ビーム応用

2019年3月9日(土) 09:30 〜 12:00 S223 (S223)

橘田 晃宜(産総研)、川久保 貴史(香川高専)

10:15 〜 10:30

[9a-S223-4] 量子電子光学テストベッドの基本特性の計測

〇(M1C)奥田 優樹1、高山 幸宏1、三浦 茂男1、岡本 洋1 (1.秋田県大シ)

キーワード:量子電子顕微鏡

量子電子顕微鏡を実現する1つの方法は、観察試料よりも上流側の電子ビーム近傍に超伝導磁束量子ビットを配置することである。本講演では量子電子顕微鏡の実現に必要な、広がった磁束量子の検出を目的とした室温における予備実験の状況を報告する。具体的には、室温電子光学テストベッドの試作結果、基本生のぬの計測結果および今後の課題について述べる。