2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[9p-PA5-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

2019年3月9日(土) 16:00 〜 18:00 PA5 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[9p-PA5-9] 静電気力顕微鏡による探針試料間バイアスの測定とキャリブレーション

山本 達也1、和泉 遼1、内藤 賀公1、李 艶君1、菅原 康弘1 (1.阪大院工)

キーワード:静電気力顕微鏡、マイクロ波、原子間力顕微鏡