[9p-PB4-1~11] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[9p-PB4-1] 石英ガラスのX線誘起光吸収帯強度の時間依存

〇春木 晶尋¹、田中 裕規¹、南保 健斗¹、葛生 伸¹、堀越 秀春² (1.福井大工、2.東ソー・エスジーエム)

キーワード：シリカガラス

溶融石英ガラスにX線を照射した時の光誘起吸収帯をもとに欠陥構造の変化を解析することを目的に研究した。本研究では厚さの異なる溶融石英ガラスサンプルに対して照射時間を変えて溶融石英ガラスのＸ線誘起欠陥構造を調べため吸収帯強度のX線照射時間依存性を求めた。