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[9p-PB6-7] 触媒分解で生成したNH3系ラジカル処理がSiNx膜のパッシベーション性能に与える影響
キーワード:パッシベーション、触媒化学気相堆積、窒化シリコン
結晶Si表面へのNH3系ラジカル処理がSiNx膜のパッシベーション性能におよぼす影響について調査した。ラジカル処理時の基板温度上昇にともない少数キャリア寿命(τeff)は向上し、処理時間が長くなるとτeffの低下が見られた。触媒分解で生成したHラジカルによるSiのエッチングが影響している可能性が示唆される。NH3系ラジカルにSi表面を曝露する際、適切な基板温度と処理時間の選定が必要である。