2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

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[9p-PB6-1~15] 16.3 シリコン系太陽電池

2019年3月9日(土) 16:00 〜 18:00 PB6 (武道場)

16:00 〜 18:00

[9p-PB6-7] 触媒分解で生成したNH3系ラジカル処理がSiNx膜のパッシベーション性能に与える影響

〇(M1)住友 誠明1、大平 圭介1 (1.北陸先端大)

キーワード:パッシベーション、触媒化学気相堆積、窒化シリコン

結晶Si表面へのNH3系ラジカル処理がSiNx膜のパッシベーション性能におよぼす影響について調査した。ラジカル処理時の基板温度上昇にともない少数キャリア寿命(τeff)は向上し、処理時間が長くなるとτeffの低下が見られた。触媒分解で生成したHラジカルによるSiのエッチングが影響している可能性が示唆される。NH3系ラジカルにSi表面を曝露する際、適切な基板温度と処理時間の選定が必要である。