15:00 〜 15:15
[9p-W351-6] 表面電位顕微鏡によるシリコン系クラスレートの仕事関数測定
キーワード:熱電変換、クラスレート、仕事関数
本研究ではKFMを用いたシリコン系クラスレートBa8Ga16Si30の仕事関数の測定結果について報告する.測定した表面電位および使用したカンチレバーの仕事関数からBa8Ga16Si30の仕事関数を算出すると6.11 eV であることが明らかとなった.Ba8Ga16Si30はn型半導体であることから,Ni,Tiなどいずれの金属でもオーミック接合可能であると推察される.