2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

16 非晶質・微結晶 » 16.3 シリコン系太陽電池

[9p-W611-1~8] 16.3 シリコン系太陽電池

2019年3月9日(土) 13:30 〜 15:45 W611 (W611)

大平 圭介(北陸先端大)

13:45 〜 14:00

[9p-W611-2] ヘテロ接合太陽電池作製時における界面欠陥のその場評価

布村 正太1、坂田 功1、松原 浩司1 (1.産総研太陽光発電研究センター)

キーワード:シリコンヘテロ接合太陽電池、界面欠陥、水素化アモルファスシリコン

シリコンヘテロ接合(SHJ)太陽電池の高効率化には、結晶シリコン(c-Si)表面の欠陥を良好にパッシベーションする必要がある。通常、パッシベーション材料として水素化アモルファスシリコン(a-Si:H)が用いられ、表面の欠陥(ダングリングボンド等)は~1010cm-2以下に低減され高効率化が実現される。しかしながら、パッシベーション膜形成時に表面欠陥がどのように終端されデバイス特性が向上するかについての知見は十分に得られていない。今回、c-Si上a-Si:Hの成長時における欠陥の発生と修復について予備実験を行ったのでその結果を報告する。