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[9p-W833-5] 低速陽電⼦回折法の特徴と新規開発装置によるイニシャルデータの解析
キーワード:低速陽電子回折、パターソン関数、低速陽電子ビーム
電子線形加速器ベースの低速陽電子ビームを用いた、低速電子回折(LEED)の陽電子版の低速陽電子回折(LEPD)装置を開発し、そのイニシャルデータの取得に成功した。低速陽電子散乱では原子核から斥力を受け、その散乱因子がX線と同様に単純かつ滑らかとなり、多重散乱が少なくより表面敏感である。LEPDによる表面パターソン関数による逆変換と通常のI-V解析を組み合わせた高速化データ駆動科学による表面構造解析の新展開を目指している。