14:45 〜 15:00 [10p-Z14-8] HfO2ナノ粒子添加プラスチックシンチレータ搭載X線検出器によるHf K吸収端前後X線エネルギーでの測定 〇岸本 俊二1、戸田 明宏2、錦戸 文彦3 (1.KEK物構研、2.東京インキ㈱、3.量研機構)