17:00 〜 17:15 [10p-Z04-16] SiO2 /GaN MOS C-V 特性のストレス耐性に対する熱処理雰囲気の影響 〇平野 太基1、上沼 睦典1、古川 暢昭1、浦岡 行治1、足立 秀明1 (1.奈良先端大)