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顕微分光膜厚計分光干渉式ウェーハ厚み計非接触光学厚み計ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム高分子相構造解析システム

【顕微分光膜厚計　OPTM series】
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/ポイントの高速測定が可能です。また初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
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【分光干渉式ウェーハ厚み計　SF-3】
ウェーハ等の研削研磨プロセスにおいて、非接触でウェーハや樹脂の厚みを超高速・高精度に測定を行います。
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【非接触光学厚み計　Emios】
サンプルをセットするだけで即結果がわかる“1ステップオペレーション”は難しい作業一切なしのユーザーフレンドリーを追求した装置です。検査工程の短縮を目指した装置になっており、検量線なし、高精度・高分解能で絶対厚みが手軽にわかります。大塚電子独自の光学方式を用いているため、コンパクトに省スペースを実現しつつ、不透明・粗面・変形しやすいサンプルでも非接触で高精度に測定可能です。
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【ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム　ELSZ-2000 series】
従来からの希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。粒子径測定範囲（0.6nm～10μm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした最小容量130μL～のディスポーザブルセルで測定が可能です。また新たに0～90℃の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性・相転移温度解析が可能です。
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【高分子相構造解析システム　PP-1000】
小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をIn-situ、リアルタイムに解析できる装置です。可視光を使用している為、X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー)の評価が可能です。 偏光板を用いたHｖ散乱測定からは光学異方性の評価や結晶性フィルムの球晶径の解析、Vv散乱測定からはポリマーブレンドの相関長の解析が行えます。
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大塚電子 製品紹介

大塚電子では、独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。

・医用機器
親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。

・分析機器
新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。

・分光計測機器
分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。