[10a-Z17-1~11] 3.12 Nanoscale optical science and near-field optics

[10a-Z17-11] Enhancement of signal intensity for inverse photoelectron spectroscopy of organic semiconductor measurements by grating-coupled surface plasmon resonance

〇(M2)Koki Shibata¹, Hinako Chida², Keiko Tawa², Hiroyuki Yoshida^1,3 (1.Chiba Univ., 2.Kwansei Univ., 3.MCRC, Chiba Univ.)

Keywords:surface plasmon resonance, inverse photoelectron spectroscopy, organic semiconductor

逆光電子分光法(IPES)は、空準位を調べる有力な実験手法であるが信号強度が低い。我々は、Alの回折格子結合型表面プラズモン共鳴(GCSPR)により従来困難であった近紫外域のIPES信号強度の増強に取り組んできた。本研究では、代表的な有機半導体である銅フタロシアニンのIPES強度を285 nmで最大1.6倍に増強させた。AgのGCSPRの結果も合わせて、プラズモン特性と増強度、侵入長を議論する。