[10p-Z06-1~19] 6.6 プローブ顕微鏡

[10p-Z06-8] Pt/W(111) ナノピラミッドによる針状試料先端部のSTM観察 II

梅村 拓実¹、久保 潤記¹、〇黒川 修^1,2 (1.京大工、2.京大ESISM)

キーワード：走査トンネル顕微鏡, アトムプローブトモグラフィー

走査トンネル顕微鏡（STM)の試料作製のための新しい手法として電界蒸発の利用を提案する．電界蒸発を起こすためには一般に先端形状のとがった試料を使用する必要がある．このような試料表面をSTM観察するための手法を提案する．