2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[10p-Z09-1~20] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2020年9月10日(木) 12:30 〜 18:00 Z09

嵯峨 幸一郎(ソニー)、森 伸也(阪大)、蓮沼 隆(筑波大)

13:30 〜 13:45

[10p-Z09-5] ステップ端に選択吸着させたAg原子を援用したSi (111)表面上への溝構造の形成

〇(M1)馬 智達1、増本 晴文1、川合 健太郎1、山村 和也1、有馬 健太1 (1.阪大院工)

キーワード:ウェットエッチング, ナノ溝, Si表面

我々は、三種類のウェットエッチングを複合的に用い、Si表面にナノメートル幅の溝構造を自己組織的に作製する試みを進めている。まず、Si (111)表面に異方性エッチングを施し、ステップ/テラス構造を作製する。次に、エッジ部へ選択的にAg原子を吸着させる。続いて、これをテンプレートとして金属アシストエッチングを施し、ナノ溝構造を形成する。今回は、各プロセス後のSi表面の構造を調査した結果を報告する。