[10p-Z14-1~21] 2.2 検出器開発

[10p-Z14-8] HfO₂ナノ粒子添加プラスチックシンチレータ搭載X線検出器によるHf K吸収端前後X線エネルギーでの測定

〇岸本 俊二¹、戸田 明宏²、錦戸 文彦³ (1.KEK物構研、2.東京インキ㈱、3.量研機構)

キーワード：シンチレーション検出器, プラスチックシンチレータ, 放射光X線

酸化ハフニウム（HfO₂）ナノ粒子を40 wt%添加したプラスチックシンチレータ（8 mm径、厚さ3 mm）を光電子増倍管（浜松ホトニクス R7400P）に装着して検出器を構成し、プラスチックシンチレータに添加された重元素成分によって、入射X線エネルギーが重元素（Hf）のK吸収端 (65.3 keV)前後の場合、検出特性への影響がどのように現れるかを調べた。パルス波高スペクトル測定とGeant4シミュレーション、時間スペクトル測定の結果を示す。