2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.6 IV族系化合物(SiC)

[10p-Z23-1~16] 15.6 IV族系化合物(SiC)

2020年9月10日(木) 13:15 〜 18:00 Z23

川西 咲子(東北大)、野口 宗隆(三菱電機)、俵 武志(富士電機)

16:00 〜 16:15

[10p-Z23-10] 4H-SiCにおける表面形状が基底面部分転位対の収縮・拡張に与える影響の解明

平能 敦雄1、榊間 大輝1、波田野 明日可1、泉 聡志1 (1.東大工)

キーワード:転位, 4H-SiC, 反応経路解析

4H-SiC結晶中に存在するBPD(基底面転位)は,大部分がTED(貫通刃状転位)へと変換されているが,変換現象は未だに解明されていない.変換率に影響する要因の1つとして表面形状が挙げられる.そこで本研究では,成膜時のオフ角に着目し,BPD部分転位対が収縮する過程での反応経路解析を行った.その結果,条件によってはステップから離れた位置から収縮が起こりやすく,オフ角が小さいほど収縮しやすいことが分かった.