[11p-Z08-1~19] 10.1 新物質・新機能創成（作製・評価技術）

△ [11p-Z08-18] SiO₂包含NiFe₂O₄ナノ微粒子への官能基修飾とイオン化支援機能

〇青木 孝太¹、佐橋 侑馬²、児玉 慶太³、梨本 健太朗³、濵田 颯太³、一柳 優子^2,3,4 (1.横国大院環情、2.横国大理工、3.横国大院理工、4.阪大院理)

キーワード：磁気ナノ微粒子, 質量分析

SiO₂包含NiFe₂O₄ナノ微粒子を作製し、さらに表面にアミノ基の修飾を行うことで、MS測定における粒径との関連並びに表面修飾によるイオン化支援機能の向上を目的とした。質量分析の結果、市販のDHBマトリクスに対し、我々の磁気ナノ微粒子を使用すると検出能力が向上した。中でも粒径が小さいもの、アミノ基を修飾した粒子が検出能力が高いため、吸光度測定と粒度分布測定を行うことでイオン化支援機能との相関を考察した。