2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.5 デバイス/配線/集積化技術

[11p-Z09-1~15] 13.5 デバイス/配線/集積化技術

2020年9月11日(金) 12:45 〜 17:15 Z09

山端 元音(NTT物性研)、多田 宗弘(NEC)、遠藤 和彦(産総研)

15:15 〜 15:30

[11p-Z09-8] トンネル結合した電荷センサを持つ物理形成シリコン量子ドットの特性評価

溝口 来成1、西山 伸平1,2、加藤 公彦2、柳 永勛2、森 貴洋2、小寺 哲夫1 (1.東工大、2.産総研)

キーワード:量子ドット, シリコン

スピン量子ビットの集積化に適した物理形成シリコン量子ドットを用いて、電荷センサが量子ドットとトンネル結合したデバイスの作製、極低温での特性評価を行った。トンネル結合により電荷センサの感度が向上し、スピンの読み出しが容易になることが期待される。測定では量子ドットの特性の変化に対応して、電荷センサで大きなシグナルの変化が観測された。今後はこのような構造を用いて高感度な電荷センシングを行う。