[11p-Z09-1~15] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

[11p-Z09-9] 単一データライン上の量子ドット状態読み出しに向けた信号多重化についての研究

〇平山 勝登¹、溝口 来成¹、田所 雅大¹、小寺 哲夫¹ (1.東工大工)

キーワード：量子ドット, 多重化

シリコン量子ドットを用いたスピン量子ビットは、従来の半導体加工技術との整合性が高いため、集積化に適している。集積化されたりょうしビットを読み出す手法として、DRAM型の構造が提案されている。この構造において、各データラインは周波数で多重化された読み出しが可能であるが、ワードラインは時間的な切り替えが必要となる。本研究ではワードラインにおいても反射係数の変化で多重化された読み出しが可能な構造を提案した。