2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[11p-Z12-1~17] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2020年9月11日(金) 12:30 〜 17:15 Z12

鳥越 和尚(SUMCO)、前田 進(GWJ)、佐々木 拓生(量研機構)、須藤 治生(GWJ)

15:45 〜 16:00

[11p-Z12-12] Si結晶中の金属不純物の安定性に与える平面応力の影響

岩城 浩也1、末岡 浩治2、鳥越 和尚3、小野 敏昭3 (1.岡山県大院情報系工、2.岡山県大情報工、3.株式会社 SUMCO)

キーワード:応力, 金属

電子デバイスの製造工程においてSiウェーハには様々な応力が負荷され,その大きさはGPaオーダーに達している.このような応力下では金属不純物の形成エンタルピーが変化し,それに伴って熱平衡濃度も変化する.金属不純物の挙動の理解と制御はSiデバイスの信頼性に重要である.そこで,本発表では第一原理計算を用い,表面近傍の平面応力がSiウェーハ中の金属不純物の形成エンタルピーに与える影響について基礎データを得た.