2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[11p-Z12-1~17] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2020年9月11日(金) 12:30 〜 17:15 Z12

鳥越 和尚(SUMCO)、前田 進(GWJ)、佐々木 拓生(量研機構)、須藤 治生(GWJ)

17:00 〜 17:15

[11p-Z12-17] シリコン結晶中の低濃度炭素の測定(ⅩⅩI) 炭素濃度の低減と測定法の進歩:Carbon engineering

井上 直久1、奥田 修一1、川又 修一1 (1.大阪府立大学)

キーワード:シリコン結晶, 炭素不純物濃度測定, 赤外吸収

炭素濃度低減と高感度化は相乗的に進む。低減にはCO発生を抑えガス流により除去する。大直径用減圧CZ 炉が導入されSiO2落下による有転位化防止に融液が覆われ、ガス流が融液に近づいた。80年代に炭素汚染が研究され一部で1014/cm3台が実現した。2005年頃自動車からパワーデバイス時代が始まり、炭素の利用と低減が進んだ。測定法の研究と人工参照試料(最低1013/cm3)などにより感度はそこまで進歩した。