2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[11p-Z12-1~17] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2020年9月11日(金) 12:30 〜 17:15 Z12

鳥越 和尚(SUMCO)、前田 進(GWJ)、佐々木 拓生(量研機構)、須藤 治生(GWJ)

14:45 〜 15:00

[11p-Z12-9] ANNポテンシャルによるSi結晶中の安定な原子空孔クラスターの形態検証

〇(M1)後口 拓登1、横井 達矢2、野田 祐輔3、神山 栄治4、大櫃 万聖1、永倉 大樹1、末岡 浩治4 (1.岡山県大院情報系工、2.名古屋大院工、3.金沢学院大経済情報、4.岡山県大情報工)

キーワード:シリコン, 原子空孔, 深層学習

CZ法によるSi単結晶は以前にも増して,無欠陥性が求められている.シリコン結晶内の微小な欠陥は,実験で検出することが難しいため,計算機による解析が有効である.第一原理計算法では,計算コストの面から不可能であった解析も,機械学習を用いて開発した原子間ポテンシャルでは,精度良く,かつ低い計算コストで解析を行うことができる.本研究では,各形態の原子空孔クラスターの安定性を算出することを目的とした.