The 81st JSAP Autumn Meeting, 2020

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Oral presentation

3 Optics and Photonics » 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

[8p-Z19-1~24] 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

Tue. Sep 8, 2020 1:00 PM - 8:00 PM Z19

Tatsutoshi Shioda(Saitama Univ.), Toshihiro Somekawa(Inst. for Laser Tech.), Minoru Tanabe(AIST), Takeo Minamikawa(Tokushima Univ.)

5:00 PM - 5:15 PM

[8p-Z19-14] Expansion of Measuring Refractive Index using Mode Interferences of Supercontinuum Light Source

〇(M2)Shuji Nakabori1, Miku Watabe1, Tatsutoshi Sioda1 (1.Saitama univ.)

Keywords:Refractive Index, Measuring Refractive Index

近年、産業界での光学機器の普及が進んでおり、さらなる発展のために高精度な光学材料が要求されるので、重要なパラメータである屈折率計測の重要度は増している。そこで、本研究では、スーパーコンティニューム光源の光周波数コムによって生じるビート信号を用いることで測定対象である試料の屈折率を計測する手法を提案している。本公演では、計測精度を維持し、計測レンジの拡大を試みた結果を報告する。