The 81st JSAP Autumn Meeting, 2020

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Oral presentation

CS Code-sharing session » 【CS.1】 Code-sharing Session of 2.4 & 7.5

[8p-Z25-1~13] 【CS.1】 Code-sharing Session of 2.4 & 7.5

Tue. Sep 8, 2020 1:15 PM - 4:45 PM Z25

Toshio Seki(Kyoto Univ.), Kousuke Moritani(兵庫県立大)

3:45 PM - 4:00 PM

[8p-Z25-10] Study on adducted-ion formation under cluster ion beam bombardment

Makiko Fujii1,2, Yudai Ishii1 (1.Yokohama National Univ., 2.JST PRESTO)

Keywords:cluster ion, adducted-ion, SIMS

付加イオンの生成機構を明らかにすることは、クラスターイオン照射による有機分子イオン化機構の全体を解明するうえで極めて重要である。本研究では、ポリマーモデルサンプルに対し、様々な付加イオン種を生成させるための添加剤を、条件を変えて添加し、クラスターイオンビーム照射により生成するイオン種とそれらの強度比に関する検討を行った。