[8p-Z25-1~13] 【CS.1】 Code-sharing Session of 2.4 & 7.5

[8p-Z25-10] Study on adducted-ion formation under cluster ion beam bombardment

〇Makiko Fujii^1,2, Yudai Ishii¹ (1.Yokohama National Univ., 2.JST PRESTO)

Keywords:cluster ion, adducted-ion, SIMS

付加イオンの生成機構を明らかにすることは、クラスターイオン照射による有機分子イオン化機構の全体を解明するうえで極めて重要である。本研究では、ポリマーモデルサンプルに対し、様々な付加イオン種を生成させるための添加剤を、条件を変えて添加し、クラスターイオンビーム照射により生成するイオン種とそれらの強度比に関する検討を行った。