2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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CS コードシェアセッション » 【CS.1】 2.4 加速器質量分析・加速器ビーム分析 と 7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[8p-Z25-1~13] 【CS.1】 2.4 加速器質量分析・加速器ビーム分析 と 7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

2020年9月8日(火) 13:15 〜 16:45 Z25

瀬木 利夫(京大)、盛谷 浩右(兵庫県立大)

15:45 〜 16:00

[8p-Z25-10] クラスターイオンビーム照射による付加イオン生成機構に関する検討

藤井 麻樹子1,2、石井 雄大1 (1.横浜国大院環境情報、2.JSTさきがけ)

キーワード:クラスターイオン, 付加イオン, 二次イオン質量分析法

付加イオンの生成機構を明らかにすることは、クラスターイオン照射による有機分子イオン化機構の全体を解明するうえで極めて重要である。本研究では、ポリマーモデルサンプルに対し、様々な付加イオン種を生成させるための添加剤を、条件を変えて添加し、クラスターイオンビーム照射により生成するイオン種とそれらの強度比に関する検討を行った。