2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » 【CS.1】 2.4 加速器質量分析・加速器ビーム分析 と 7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[8p-Z25-1~13] 【CS.1】 2.4 加速器質量分析・加速器ビーム分析 と 7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

2020年9月8日(火) 13:15 〜 16:45 Z25

瀬木 利夫(京大)、盛谷 浩右(兵庫県立大)

15:15 〜 15:30

[8p-Z25-8] 真空エレクトロスプレー液滴イオンのサイズ分布に関する検討

二宮 啓1、川瀬 幹大1、チェン リーチュイン1、平岡 賢三1 (1.山梨大工)

キーワード:クラスターイオン, エレクトロスプレー, 二次イオン質量分析

我々は二次イオン質量分析におけるイオン化効率を大幅に改善させることを目的として、エレクトロスプレーによって発生させた液滴イオンを巨大クラスタービームとして利用するための研究を行っている。本研究では、真空エレクトロスプレー液滴イオンビームを平坦な有機薄膜に照射し、その表面を走査型プローブ顕微鏡で観測した画像から液滴イオンのサイズ分布やそのイオンによるスパッタ体積の評価を行った結果について報告する。