[9a-Z06-1~11] 6.6 Probe Microscopy

△ [9a-Z06-10] Structural identification of T phase of silicene on Ag(111) with atomic force microscopy

〇(D)Lingyu Feng¹, Jo Onoda², Keisuke Yabuoshi¹, Yoshiaki Sugimoto¹ (1.The Univ. of Tokyo, 2.Univ. of Alberta)

Keywords:Atomic force microscopy, silicene

シリセンはSi原子がハニカム状に配列した二次元物質である。近年、シリセンはその優れた電子特性により注目を集めている。シリセンは座屈構造を持つため、正確な構造決定は難しい。
本研究では、Ag(111)上シリセンのT相のAFM観察について報告する。AFM観察の結果、T相のすべてのSi原子を画像化することに成功した。得られたAFM像によって、T相の原子配列には二つの異なるタイプがあることも特定した。