[9a-Z06-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

△ [9a-Z06-10] 原子間力顕微鏡によるAg(111)上シリセンのT相の構造解析

〇(D)馮 凌瑜¹、小野田 穣²、籔押 慶佑¹、杉本 宜昭¹ (1.東大新領域、2.アルバータ大)

キーワード：原子間力顕微鏡, シリセン

シリセンはSi原子がハニカム状に配列した二次元物質である。近年、シリセンはその優れた電子特性により注目を集めている。シリセンは座屈構造を持つため、正確な構造決定は難しい。
本研究では、Ag(111)上シリセンのT相のAFM観察について報告する。AFM観察の結果、T相のすべてのSi原子を画像化することに成功した。得られたAFM像によって、T相の原子配列には二つの異なるタイプがあることも特定した。