[9a-Z06-1~11] 6.6 Probe Microscopy

△ [9a-Z06-9] Evaluation of Electronic Structures before Breakage of Single-Molecule Junctions

〇(D)Yuji Isshiki¹, Tomoaki Nishino¹, Shintaro Fujii¹ (1.Tokyo Tech)

Keywords:Single molecule junction, scanning tunneling microscope, current voltage characteristics

本研究では、STMブレイクジャンクション法を用いて、金属電極に単分子が架橋した分子接合を作製した。単分子接合の電流電圧特性（I-V）を解析することによって、単分子接合の電子状態を決定した。高速で連続的にI-Vを計測することで、金表面の単分子の揺らぎを電子状態の変化として捉えることに成功した。